HAPS探针台产品特点介绍


应用导向 - 丰富的KitStart测试组件适用于多种的测试要求。


超高精度和稳定性 - 花岗岩探针台底座,满足亚微级测试要求。


SlimScope和Superscope - SlimScope用于高精度RF/mmW/load pull测试,Superscope用于亚微米级测试。


高性价比 - 用户可根据需求配置的高性价比探针台系统。



HAPS探针台 - Superscope金相显微镜配置


Superscope为拥有4个转塔的金相显微镜,可安装4个M Plan APO 95mm金相物镜。其放大倍数,根据所选物镜的倍数,通常由20~2000X不等。该系统常用于极小微尺寸的待测点的测试或激光应用中。


HAPS探针台为Superscope配置了兼顾刚性和精度的基座,可进行X-Y-Z三方向的精密定位。简单直接的操作方法,可让用户列加专注于测试测量应用于中去,而不是探针台的操作。


HAPS探针台 - SlimScope配置


SlimScope拥有12X的超大变倍比Zoom lens,可根据客户对放大倍数的需求配置1X或更大倍数的M Plan APO物镜。专用的结构设计,可让用户轻松的切换M Plan APO物镜,最大程度地减少更换物镜的麻烦并提升安全性。


SlimScope常用于对精度要求更高的RF/mmW测试,负载牵引测试等。


产品目录

扫描二维码浏览手机站

键德测试测量系统(东莞)有限公司,东莞松山湖高新技术产业开发区工业南路松湖华科1栋5楼。

Copyright @ 2018. KeyFactor Systems, Inc. All rights reserved.