KeyFactor发布超低漏电流同轴测试探针-FemtoProbe
KeyFactor成功研发出超低漏电流同轴测试探针：FemtoProbe，探针漏电流小于10fA。该探针采用独特的同轴探针结构，可将有效地屏蔽电场和磁场干扰，减小偏置漏电。灵活的探针结构设计，让用户可根据样品及测试要求选择探针折弯的角度（Bend Angle）或折弯的数量（Single Bend or Dual Bend），以适应多种测试测量要求。
FemtoProbe同轴探针的成功研发，结束了由国外几家厂商长期垄断微弱电流测试测量探针的局面，为中国半导体测试测量事业注入了蓬勃的活力。
备注：以上测试结果由IPS-AS探针台，配置置FemtoProbe测得。测试仪器为Keithley4200半导体参数分析仪（带放大器）。温度<25℃，湿度<45%。
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