IPS探针台系统
4至8英寸的高性价比探针台（晶圆探针台），模块化结构设计，可无缝升级，未来的测试要求可在现有的设备升级满足。
探针台属于昂贵且耐用的科研设备。许多用户最初采购探针台时，仅考虑了现有的测试测量要求及相应的预算，因此最开始配置的探针台通常仅能满足某一测试目的。随着研究的深入，用户需要应对不同的测试时，却发现原来采购的探针台已无法应付现有的测试。
InitialPS（IPS）探针台从设计之初便考虑了客户的潜在需求。模块化的结构设计及独创的KitStart技术，让用户可在测试测量应用要求变化时，可进行无缝升级。用户仅需要从多种配置中进行简单选型即可升级，无须对探针台进行定制性的修改。便利的升级环境，也让用在开始时仅配置满足基础测试要求的探针台系统，节约设备预算。
SimplePS探针台测量套装
SimplePS是专为较低预算而研发的高可靠性探针台系统。
预算及产品品质一直是困扰用户的两个难题。如今，SimplePS测量套装的出现，该问题将迎刃而解。该套装在考虑预算要求的同时，仍然为用户提供了高品质的产品配置：高稳定性、高可靠性的的SimplePS机台、DTP100定位器、S10系列探针夹具及其它相关的配件。
利用KeyFactor完善的KitStart技术，SimplePS仍然为用户提供完整的测试测量解决方案。随着用户应用需求的变化，我们仍然能根据客户的测试应用对SimplePS作相应的产品升级。
全钢材料制作的底座，使SimplePS在较小尺寸外形下，仍然保持着优秀的稳定性。小体积，低预算的产品特点，用户可根据需求配置多套SimplePS探针台，满足实验和教学的多方面需求。
HAPS探针台系统
8至12英寸的精密型测试测量探针台。
为了在先进的半导体测试测量中获得可靠的测试结果，其中的关键之一便是探针台本身拥有超高的机械精度和稳性性。HPAS便是为了满足用户对于精准和可靠性和超高要求研发的探针台系统。
HAPS底座由一块表面平整精度小于5微米的花岗岩平台构成。该设计不但为探针台提供了超高的稳定性，还为精度的移动定位提供了高精度的基台。载物台移动基座配置了精密的微分头，可进行分辨率的移动定位操作。同时，由于配置了高精度的空气轴承底座，X-Y的初步定位可快速顺滑地进行，操作效率不会受制于精密的微分头。
由于拥有超高的精度及稳定性，HAPS常被应用于毫米波表征测试、亚微米级探针测试等测试测量应用中。
我们可为用户研发设计专用的探针台系统，包括PCB、LCD、TFT等板级测试方案，亚微米激光切割方案等等。请联系并告知我们您的要求，我们将有专业的工程人员与您对接，为您提供专业的服务。
专用、定制化的探针台系统
