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高温探针台的测试方法

导读

  高温探针台是半导体器件、新材料研发以及功率器件可靠性评估中不可或缺的核心设备。它能够在高温、真空或特定气氛环境下,对晶圆、芯片或材料进行精准的电学性能测试。一套标准且严谨的高温探针台测试方法,通常包含五个核心环节,下面是键德测试测量小编的介绍。


高温探针台的测试方法如下:

高温探针台
高温探针台的测试方法


  1、实验前的安全与设备准备


  高温测试涉及精密仪器与高温环境,安全与基础检查是首要前提。在开始测试前,操作人员需佩戴耐高温手套、护目镜等防护装备,并确保探针台放置在平稳、干燥且通风良好的实验台上。同时,必须对设备进行自检,检查探针台的接口是否洁净,探针针尖有无弯曲或损坏,确认冷却水系统和电源接地正常。此外,为了防止样品在高温下氧化,通常需要向腔体内通入惰性气体进行保护,或者开启真空泵抽取至所需的真空度。


  2、样品安装与探针定位


  样品的稳固接触与精准定位是获取准确数据的基础。首先,将待测样品平整地放置在高温卡盘上,利用真空吸附将其牢牢固定,以保证良好的热传导和温度均匀性。接着,通过显微镜观察,利用精密位移台将探针臂移动到待测焊盘或材料表面的指定位置。缓慢降下探针,确保针尖与样品表面形成稳定、良好的欧姆接触。接触力度需适中,既要保证低接触电阻,又不能压伤样品。


  3、设定温度程序与热稳定


  高温测试的核心在于温度的精准控制,切忌在温度未稳定时匆忙测量。需要在温控软件中设定目标温度以及合理的升温速率。当温度达到设定值后,必须保持足够的恒温时间,这是为了确保样品内部整体温度达到均匀稳定状态,避免因局部温差导致电学参数测量失真。


  4、施加偏置与电学参数测量


  在温度稳定后,即可开始进行核心的电学性能测试。首先,将探针通过低噪声屏蔽线缆连接至半导体参数分析仪、源表或LCR测试仪等精密电学仪表。随后,根据测试目的施加相应的电信号。例如,在功率器件测试中,常进行高温栅极偏置测试,即在高温下对栅极施加高于工作电压的直流偏置应力,监测其阈值电压漂移、栅极漏电流等参数的退化情况;在材料测试中,则多采用四探针法,向样品注入恒定电流并测量电压降,从而计算出材料在高温下的电阻率或方块电阻。


  5、数据采集、降温与设备维护


  科学的收尾工作不仅能保障数据完整,还能延长设备寿命。测试过程中,需通过计算机软件自动采集并记录温度、电流、电压等实时数据,绘制出参数随温度或时间变化的曲线。测试结束后,设定合理的降温程序让其自然冷却至安全温度。严禁在高温状态下直接打开腔体或强制风冷,剧烈的热冲击极易导致卡盘、探针甚至样品损坏。待设备完全冷却后,升起探针,关闭气路与电源,并对腔体内部进行必要的清洁与维护,为下一次测试做好准备。


  通过这套标准化的测试流程,研究人员能够准确评估半导体器件在高温工况下的可靠性,或深入分析新材料在不同温度下的电导率、载流子迁移率等关键物理特性。

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