IPS探针台产品特点介绍


应用导向 - 丰富的KitStart测试组件适用于多种的测试要求。


模块化设计 - 多种模块化配件可供选择,允许用户根据应用需求无缝升级探针台系统 。


高性价比 - 用户可根据需求配置的高性价比探针台系统。


独特的X-Y机构 - 精密的微分头定位器加平台空气轴承底座,可速调整并精确定位。

IPS-BIV 基础I-V测试KitStart配置


IPS-BIV是一个高性价比的基础I-V测试配置。该系统包含了低至nA级的所有测试测量配件。模块化的结构设计,允许您日后将该系统升级至同轴、三同轴、微波、高压、大电流测试系统,您仅需在我们提供的一系列配件中选择即可。


了解产品详情,请下载<IPS-BIV Flyer>。


IPS-COAX 同轴测试KitStart配置


IPS-COAX为IPS探针台的同轴配置方案,用于精密的I-V/C-V、脉冲I-V测试测量。该系统包含了低至pA级的所有测试测量配件。模块化的结构设计,允许您日后将该系统升级至三同轴、微波、高压、大电流测试系统,您仅需在我们提供的一系列配件中选择即可。


了解产品详情,请下载<IPS-COAX Flyer>。

IPS-TRIAX 三轴测试KitStart配置


IPS-TRIAX为IPS探针台的三同轴配置方案,用于超低噪声的I-V/C-V、脉冲I-V测试测量。该系统包含了低至fA级的所有测试测量配件。模块化的结构设计,允许您日后将该系统升级至微波、高压、大电流测试系统,您仅需在我们提供的一系列配件中选择即可。


了解产品详情,请下载<IPS-TRIAX Flyer>。


IPS-FA为IPS探针台的用于精确电学失效分析的KitStart配置方案,可用于待测点小于1微米的失效分析应用中。该配置对不同的分析测试具有非常灵活的适应性,可在不对探针台作任何调整的情况下,适用于I-V/C-V,PIV及RF等测试。使用IPS-FA,在不同的分析测试应用中,您将更加游刃有余,它不仅帮您节约预算,更帮您节约宝贵的时间。


了解产品详情,请下载<IPS-FA Flyer>。

IPS-FA 电学失效分析KitStart配置

SimpleStage载物台基座


SimpleStage为高性价比的简易测试方案配置。该基座仅配置了最基础和移动对准功能:载物台X-Y和Theta粗细调旋转。无须对探针台进行任何更改,该基座可直接升级为高精度的AccuStage基座。


AccuStage载物台基座


AccuStage为可进行精密定位的测试方案配置。除了拥有SimpleStage的所有功能,该配置还拥有精密的X-Y微分头调节器及高往复精度的Z轴功能。人体工学设计的载物台空气开关,用户单手即可操作,粗调定位十分方便。



IPS探针台常用的体视显微镜为MOTIC SMZ171显微镜,光学放大倍数为20~100X,工作距离为110mm。超长工作距离、超大景深,卓越的立体成像,使得该配置非常适用基础的I-V/C-V测试或RF测试。


IPS探针台为体视显微镜配置了一个二段式旋转立柱,显微镜快速摆动定位并锁定。若有更高的定位精度要求,可选择“显微镜龙门基座”选件,无须对探针台进行任何修改便可直接进行无缝升级。



IPS探针台- 体视显微镜配置


Superscope为拥有4个转塔的金相显微镜,可安装4个M Plan APO 95mm金相物镜。其放大倍数,根据所选物镜的倍数,通常由20~2000X不等。该系统常用于极小微尺寸的待测点的测试或激光应用中。


IPS探针台为Superscope配置了兼顾刚性和精度的基座,可进行X-Y-Z三方向的精密定位。简单直接的操作方法,可让用户列加专注于测试测量应用于中去,而不是探针台的操作。



IPS探针台- Superscope金相显微镜配置


SlimScope拥有12X的超大变倍比Zoom lens,可根据客户对放大倍数的需求配置1X或更大倍数的M Plan APO物镜。专用的结构设计,可让用户轻松的切换M Plan APO物镜,最大程度地减少更换物镜的麻烦并提升安全性。


SlimScope常用于对精度要求更高的RF/mmW测试,负载牵引测试等。

IPS探针台- SlimScope显微镜配置

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