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KeyFactor发布超低漏电流同轴测试探针-FemtoProbe

      KeyFactor成功研发出超低漏电流同轴测试探针:FemtoProbe,探针漏电流小于10fA。该探针采用独特的同轴探针结构,可将有效地屏蔽电场和磁场干扰,减小偏置漏电。灵活的探针结构设计,让用户可根据样品及测试要求选择探针折弯的角度(Bend Angle)或折弯的数量(Single Bend or Dual Bend),以适应多种测试测量要求。

      FemtoProbe同轴探针的成功研发,结束了由国外几家厂商长期垄断微弱电流测试测量探针的局面,为中国半导体测试测量事业注入了蓬勃的活力。

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备注:以上测试结果由IPS-AS探针台,配置置FemtoProbe测得。测试仪器为Keithley4200半导体参数分析仪(带放大器)。温度<25℃,湿度<45%。

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